УДК 004.031.6
Саргсян В.К.
ОРГАНИЗАЦИЯ ЭФФЕКТИВНОГО ВОССТАНОВЛЕНИЯ РАБОТОСПОСОБНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ ПАМЯТИ
Национальный исследовательский университет «МИЭТ»
Зеленоград, Россия, 4806-й пр., 5, 124498
UDC 004.031.6
Sargsyan V.K.
MEMORY OPTIMIZED REPAIR ORGANIZATION
National Research University of Electronic Technology / MIET,
Zelenograd, Russia, 4806, b. 5, 124498
В данной статье мы описали метод оптимизации процесса программного(BISR) и аппаратного(BIHR) восстановление работоспособности элементов памяти(СОЗУ), который значительно уменьшает время загружения сигнатуре по восстановлению.
Ключевые слова: самотестирование, встроенное восстановление, электронный предохранитель, сигнатура восстановления.
In this paper we described an optimization method in RAM built-in self-repair (BISR) and built-in hard-repair (BIHR) process that significantly reduce repair signature load time.
Key words: built-in self-test, built-in self-repair, fuse-box, repair signature.